产品介绍：
FLH3000膜厚测试仪是利用光谱反射技术实现薄膜厚度测量的高精度仪器，其测量厚度范围从nm-um，可实现如光刻胶、氧化物、硅或者其他半导体膜、有机薄膜、导电透明薄膜等膜厚精确测量，被广泛应用于半导体、微电子、生物医学等领域。
推荐应用领域：
光伏膜厚分析；半导体薄膜（光刻胶、工艺薄膜、介电材料）；液晶显示（OLED、玻璃厚度、ITO）；光学镀膜（硬涂层厚度、减反涂层）；高分子薄膜（PI、PC）；金属材料膜厚
产品特点：
高精度；非接触式测量；广泛的材料兼容性；快速测量；操作简便；高适应性
技术规格：
